桔皮儀wave-scan dual產(chǎn)品介紹
BYK桔皮儀AW-4840
產(chǎn)品介紹
新款BYK桔皮儀AW-4840，該儀器用于測量高光澤至中光澤涂層表面的桔皮和鮮映性。儀器小巧輕便，可單手輕松使用。可測量平面和曲面。
新款BYK桔皮儀AW-4840特點
針對平面和曲面，曲率大于50cm
經(jīng)典的LW、SW和客戶自定義標尺
測量范圍擴展到中光澤表面
結(jié)構(gòu)光譜分析外觀變化，實現(xiàn)優(yōu)化
晦澀度和DOI
量，與涂裝系統(tǒng)無關
輕松滾輪操作，大型多語言顯示屏
可從菜單選擇測量標尺和掃描長度
保存全部統(tǒng)計信息和數(shù)據(jù)
充電和數(shù)據(jù)傳輸?shù)鬃阌跀?shù)據(jù)傳輸?shù)接嬎銠C和對電池進行充電
smart-chart軟件，便于數(shù)據(jù)分析和編制文檔
訂購信息：
型號 | 名稱 |
AW-4840 | 桔皮儀dual |
SE-4840 | 延長一年保修期 |
桔皮儀wave-scan dual技術參數(shù)
應用 |
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高光澤至中光澤表面 | du＜65，線性范圍 |
波長光譜 |
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du | ＜ 0.1 mm |
Wa | 0.1 ~ 0.3 mm |
Wb | 0.3 ~ 1 mm |
Wc | 1 ~ 3 mm |
Wd | 3 ~ 10 mm |
We | 10 ~ 30 mm |
重復性 | du＜40：4%或＞0.4 du＞40：6%或＞0.6 |
重現(xiàn)性 | du＜40：6%或＞0.6 du＞40：8%或＞0.8 |
工件曲率 | 半徑＞500mm |
最小樣品尺寸 | 35 mm x 150mm |
掃描范圍 | 5 / 10 / 20 cm |
分辨率 | 375點 / cm |
內(nèi)存 | 1500個讀數(shù) |
接口 | USB1.1 |
語言 | 英語、法語、德語、意大利語、日語、 葡萄牙語、西班牙語 |
光源 | 激光二極管，LED和IR-SLED |
激光能源 | ＜1 mw (激光等級2) |
體積 | 150 x 110 x 55 mm |
重量 | 650 g |
電源供應 | 可充電電池塊或3個小的AA電池 (堿性或可充電)，約可進行1000次測量 |
溫度范圍 | 操作溫度：+10℃至40℃ |
貯存溫度 | 0℃至60℃ |
相對濕度 | 在35℃時最高85%， 不結(jié)露 |
